2016年3月15-17日，我公司参加了在上海新国际博览中心举办的全球半导体设备材料展（SEMICON CHINA 2016），现场展示了STS8250,STS8200EX两种机型，分别搭载着全新升级的测试头隆重亮相。本次展会的主题是“大规模模拟IC测试方案”，针对多Pins的模拟IC器件，更多数字通道要求的PMIC器件的测试解决方案，并展示了如何从现有的测试平台进行扩展，以及如何与现有的测试平台的兼容性关系。同时也对目前热门的Strip Test测试解决方案，IPM器件测试解决方案进行了介绍，引来大量关注、反响热烈。

AccoTEST的美国市场及销售总监 Dean VanDruff 先生和日本市场及销售总监 Katsumoto Hayashi 先生与上海、北京同事齐聚展会现场，为来自全球各地的用户提供最专业、全面的讲解和服务，充分展现了AccoTEST走向海外的品牌步伐，取得了很好的反响。

（上图为延时曝光拍摄）

今年的展位设计延续了以往的开放式空间和 LOGO主色调，凸显AccoTEST的国际化品牌形象。配合吊顶更显专业、大气，且大大提升了展馆内的辨识度，在林立的展位之中更易于被客户发现。加之展位位于N2馆7号门通道口，人流穿梭十分便捷，访客络绎不绝。

近年来AccoTEST拓展海外市场成绩显著，其中通过Dean VanDruff 先生在美国本土驱动的海外订单已经跨越100台。为了嘉奖他的出色成绩，公司在展会现场举行了别具意义的颁奖仪式。

日本在全球IC财产里同样占据举足轻重的地位，具有数十年资深履历的日本市场及销售总监Katsumoto Hayashi 先生十分谦逊、和蔼。

在展会期间接待了大量海外客户，英语、日语无缝切换，十分敬业！

两位大咖不放过任何闲暇，经常看到他们专注的交流。他们的亮相也令本届展览更具国际范，显著提升了客户心中的品牌形象。

AccoTEST迈向海外市场的F4

IPM应用案例

STS8250

STS8200EX

我们凭借别具一格的展位、精良的产品和整齐划一的国际化团队，吸引了大量客户驻足参观。STS8250和STS8200EX一度遭到火爆围观，AccoTEST持续不断的提升和创新得到了新老用户的一致认可和肯定。