PAT（Part Average Testing）表示零件平均测试，是一种应用于ATE中提高元器件品质和可靠性的方法，根据工艺生产能力的不同而在测试项中加入更严格的测试范围。

    PAT功能可分为静态与动态两类。静态PAT通常应用于CP及WLCSP量产环节，一整片或一个批次晶圆完成测试后对数据统计并实施PAT；而DPAT，亦称动态DPAT，通常应用于FT量产环节，实时对数据实施PAT。

您可从本文了解到：

1. DPAT设定界面

2. 案例分析